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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-7
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by AENOR in December of 2011.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by AENOR in December of 2011.)

Ausgabe 2011-12-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 61,00 €

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