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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-29
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Ausgabe 2011-11-01
Originalsprache Englisch
Preis ab 72,80 €
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