Norm [AKTUELL]

UNE-EN 62374-1
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)

Ausgabe 2011-03-01
Originalsprache Englisch
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