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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 62418
Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)

Ausgabe 2010-10-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 67,40 €

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