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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-38
Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)

Ausgabe 2008-09-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 63,10 €

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