Norm [AKTUELL]

NF C96-022-44 ; NF EN 60749-44:2016-12-23
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

Ausgabe 2016-12-23
Originalsprache Französisch
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