Norm
[AKTUELL]
OENORM EN ISO 18452
OENORM EN ISO 18452
Hochleistungskeramik - Bestimmung der Dicke keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer (ISO 18452:2005)
Titel (englisch)
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer (ISO 18452:2005)