Norm [AKTUELL]

ISO 16700
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Leiffäden für die Kalibrierung der Bildvergrößerung

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 4 - Rasterelektronenmikroskopie  

Ausgabe 2016-08
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
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Inhaltsverzeichnis

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