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Norm-Entwurf

OEVE/OENORM EN 62951-1
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 47/2256/CDV) (english version)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 47/2256/CDV) (english version)

Ausgabe 2016-01-15

Originalsprache Englisch

Preis ab 23,03 €

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