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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 62047-22
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten (IEC 62047-22:2014) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014) (german version)

Ausgabe 2015-06-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 100,28 €

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