Norm [AKTUELL]

ISO 13095
Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Verfahren zur in situ-Charakterisierung des Schaftprofils von AFM-Sonden zur Messung von Nanostrukturen

Titel (englisch)

Surface Chemical Analysis - Atomic force microscopy - Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 9/WG 5 - Kalibrierung von Sonden  

Ausgabe 2014-07
Originalsprache Englisch
Preis ab 142,50 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Zum Kontaktformular