Technische Regel [AKTUELL]

EIA JEP 148B
Reliability Qualification of Semiconductor Devices Based on Physics of Failure Risk and Opportunity Assessment

Titel (englisch)

Reliability Qualification of Semiconductor Devices Based on Physics of Failure Risk and Opportunity Assessment

Ausgabe 2014-01
Originalsprache Englisch
Preis Auf Anfrage
Inhaltsverzeichnis