Norm [AKTUELL]

ASTM E 766
Eichung der Vergrößerung von REM (Rasterelektronenmikroskopen) unter Verwendung der Eichprobe NBS-SRM-484

Titel (englisch)

Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope

Ausgabe 2014
Originalsprache Englisch
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