Einführungsbeitrag

Integrierte Schaltungen werden in unserer durch informationstechnische Anwendungen geprägten Welt in allen Bereichen der Automatisierung eingesetzt. Sie werden dabei insbesondere in industrieller Umgebung oder auch beim Einsatz in Fahrzeugen elektromagnetischen Störungen ausgesetzt, die zu Fehlfunktionen führen können. Elektrische Transienten sind ein üblicher Bestandteil der EMV-Umgebung elektrischer und elektronischer Bauelemente. Diese Transienten werden oft in Energienetzen erzeugt und direkt in die IC-Anschlüsse eingespeist oder in diese eingekoppelt und können dabei die Funktion des Bauelementes beeinflussen. Die Kenntnis des Störfestigkeitspegels gegenüber Impulsen ermöglicht die Optimierung des IC sowie die Festlegung der Anwendungsanforderungen. Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC; en: integrated circuit) gegenüber genormten leitungsgeführten transienten elektrischen Störungen fest. Die Störungen, die nicht notwendigerweise auf den Betrieb des zu prüfenden Bauelementes abgestimmt sind, werden an die Anschlüsse des IC über Koppelnetzwerke angelegt. Mit diesem Verfahren wird das Verständnis und die Einstufung von Wechselwirkungen zwischen leitungsgeführten transienten Störungen und der Beeinträchtigung der Funktion ermöglicht, die in ICs durch transiente Vorgänge innerhalb oder außerhalb des festgelegten Betriebsspannungsbereiches eingeführt werden. Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente