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Norm [AKTUELL]

EIA JESD 22-C101F
Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components

Titel (englisch)

Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components

Ausgabe 2013-10

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