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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-27+A1
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Ausgabe 2012-11

Originalsprache Deutsch

Preis ab 79,80 €

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