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Norm-Entwurf

OEVE/OENORM EN 60749-28
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Direct contact charged device model (DC-CDM) (IEC 47/2155/CDV)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Direct contact charged device model (DC-CDM) (IEC 47/2155/CDV)

Ausgabe 2013-04-15

Originalsprache Englisch

Preis ab 26,97 €

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