Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-27/A1
; NF EN 60749-27/A1:2013-03-20
NF C96-022-27/A1
; NF EN 60749-27/A1:2013-03-20
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: electrostatic discharge (ESD) sensivity testing - Machine model (MM)
