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Norm [AKTUELL]

SN EN 62047-13
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS - Strukturen

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Microelectromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strenght for MEMS structures

Ausgabe 2012-04

Originalsprache Deutsch

Preis ab 25,80 €

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