Norm [AKTUELL]

ABNT NBR IEC 60749-30
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices priorto reliability testing

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices priorto reliability testing

Ausgabe 2011-01-24
Originalsprache Portugiesisch
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