Norm [AKTUELL]

NF C96-050-13 ; NF EN 62047-13:2012-12-01
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 13: Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS-Strukturen

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strenght for MEMS structures

Ausgabe 2012-12-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 90,10 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis