Einführungsbeitrag

Die IC-Streifenleitung bietet ein breitbandiges Messverfahren für die Störfestigkeit eines Prüflings gegen Felder, die innerhalb der IC-Streifenleitung erzeugt werden, oder auch für abgestrahlte Aussendungen eines Prüflings, der innerhalb der IC-Streifenleitung untergebracht ist. Damit wird die Anwendung konventioneller Antennen mit ihren arteigenen Messeinschränkungen hinsichtlich der Bandbreite, nichtlinearem Phasengang, Richtwirkung und Polarisation vermieden. Die IC-Streifenleitung ist eine Sonderart der Übertragungsleitung, die eine TEM-Welle ausbildet. Diese Welle ist gekennzeichnet durch transversal orthogonale elektrische (E) und magnetische (H) Felder, die sich senkrecht zur Ausbreitungsrichtung entlang der IC-Streifenleitung oder Übertragungsleitung befinden. Mit dem in diesem Teil der Normenreihe DIN EN 62132 enthaltenen Messverfahren wird ein definiertes Verfahren mit einer IC-Streifenleitung zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente gestrahlte elektromagnetische Störgrößen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 3 GHz festgelegt. Die zu bewertende integrierte Schaltung sollte dazu auf einer EMV-Prüfleiterplatte befestigt sein, die mit entsprechenden Mess- und Überwachungspunkten ausgestattet ist, an denen die Antwortparameter des Prüflings gemessen werden können. Die EMV-Prüfleiterplatte sorgt für die Geometrie und Ausrichtung des Prüflings in Bezug auf den aktiven Leiter und eliminiert im Falle der geschlossenen Ausführung der IC-Streifenleitung alle Anschlussleitungen innerhalb des Gehäuses. Im Prinzip sind zwei Ausführungen der IC-Streifenleitung möglich - eine offene und eine geschlossene Ausführung. Bei der offenen Ausführung wird eine einfache Streifenleiteranordnung verwendet. Bei der geschlossenen Ausführung wird ein zusätzliches Schirmgehäuse angewendet. Entsprechende Anordnungen sind in der Norm beschrieben. Dieser Teil von DIN EN 62132 ist in Verbindung mit DIN EN 62132-1 anzuwenden. Zukünftige Normen dieser Reihe tragen den angegebenen neuen allgemeinen Titel und werden als Messvorschrift für EMV in die entsprechende Reihe mit der VDE-Klassifikation 0847-22 aufgenommen. Die Titel der bestehenden Normen dieser Reihe werden mit ihrer nächsten Ausgabe aktualisiert und diese werden dann ebenfalls mit der VDE-Klassifikation 0847-22 in das VDE-Vorschriftenwerk aufgenommen. Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente