Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-23/A1
; NF EN 60749-23/A1:2012-05-01
NF C96-022-23/A1
; NF EN 60749-23/A1:2012-05-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: high temperature operating life
