Norm
[AKTUELL]
OEVE/OENORM EN 62047-10
OEVE/OENORM EN 62047-10
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik (IEC 62047-10:2011) (deutsche Fassung)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials (IEC 62047-10:2011) (german version)