Norm [AKTUELL]

NF C96-022-40 ; NF EN 60749-40:2012-02-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: board level drop test method using a strain gauge

Ausgabe 2012-02-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 105,40 €
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