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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-29
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung (IEC 60749-29:2011) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (german version)

Ausgabe 2012-03-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 143,60 €

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