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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-23/A1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Ausgabe 2011-12-21

Originalsprache Spanisch

Preis ab 28,90 €

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