Norm
[AKTUELL]
NF C96-261-2
; NF EN 62132-2:2011-11-01
NF C96-261-2
; NF EN 62132-2:2011-11-01
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren
Titel (englisch)
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method
