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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-23+A1
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Ausgabe 2011-07

Originalsprache Deutsch

Preis ab 65,20 €

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