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Norm [AKTUELL]

NF C96-050-8 ; NF EN 62047-8:2011-10-01
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: strip bending test method for tensile property measurement of thin films

Ausgabe 2011-10-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 90,10 €
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