Norm [AKTUELL]

BS EN 60749-29
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Latch-up-Prüfung

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test

Ausgabe 2011-08-31
Originalsprache Englisch
Preis ab 267,20 €
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