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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-23
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (german version)

Ausgabe 2011-09-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 86,54 €

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