DIN IEC/TS 61994-4-4
; DIN SPEC 41994-4-4:2011-11
Piezoelektrische und dielektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion - Wörterverzeichnis - Teil 4-4: Materialien - Materialien für Oberflächen-(OFW-)Bauelemente (IEC/TS 61994-4-4:2010)
Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection - Glossary - Part 4-4: Materials - Materials for surface acoustic wave (SAW) devices (IEC/TS 61994-4-4:2010)
Verfahren
Vornorm
Einführungsbeitrag
Dieser Teil von IEC 61994 legt Begriffe für Einkristall-Wafer fest, die für Oberflächenwellenbauelemente (en: surface acoustic wave, SAW), die dem neuesten Stand der Technik entsprechen, verwendet werden. Das Wörterbuch erläutert Begriffe der: - Quarzkristalle, wie synthetischer Quarzkristall "wie gezüchtet" oder kongruente Zusammensetzung, - Materialien von Einkristallen, wie Lanthan-Gallium-Silikat oder Lithiumtetraborat, - Beurteilung der Wafer, wie Rauigkeit der Rückseite, Schrägkante oder Splitter, - Qualitätsbeurteilung, wie annehmbare Qualitätsgrenzlage oder lokale Dickenschwankung, - Oberflächen-(OFW-)Bauelemente, wie OFW-Ausbreitung oder Grenzabweichung der Oberflächenorientierung. Diese Begriffe sind für die Anwendung in Normen und Schriftstücken des Technischen Komitees IEC/TC 49 vorgesehen. Zuständig ist das K 642 "Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 642 - Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion
Zuständiges internationales Arbeitsgremium
IEC/TC 49 - Piezoelektrische Bauteile zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion
