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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 62374-1
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen (IEC 62374-1:2010) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010) (german version)

Ausgabe 2011-08-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 116,88 €

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