• Normungsroadmap Wasserstofftechnologien Laden Sie sich hier die Roadmap herunter

    Jetzt downloaden
  • Ruderboot von oben

    DIN-Mitglied werden Profitieren Sie von vielen Vorteilen

    Mehr erfahren
 
Norm [AKTUELL]

NF C96-017-1 ; NF EN 62374-1:2011-06-01
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Part 1: time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Ausgabe 2011-06-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 105,40 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis