Vornorm

ISO/TS 24597
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Verfahren zur Ermittlung der Bildschärfe

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 4 - Rasterelektronenmikroskopie  

Ausgabe 2011-06
Originalsprache Englisch
Preis ab 239,00 €
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Inhaltsverzeichnis

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