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Norm [AKTUELL]

SN EN 62374-1+CORR
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Ausgabe 2011-04
Originalsprache Deutsch
Preis ab 79,80 €
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