• Veröffentlichungsveranstaltung der NRM H2 Online-Veranstaltung am 25.7.2024

    Jetzt anmelden
  • Ruderboot von oben

    DIN-Mitglied werden Profitieren Sie von vielen Vorteilen

    Mehr erfahren
 
Norm [AKTUELL]

JIS C 2162
Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature

Titel (englisch)

Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature

Ausgabe 2010-03-23
Originalsprache Englisch
Preis ab 53,00 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis