Norm [AKTUELL]

NF C80-204 ; NF EN 62418:2011-03-01
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Metallization stress void test

Ausgabe 2011-03-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 90,10 €
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