Norm
[AKTUELL]
NF C80-204
; NF EN 62418:2011-03-01
NF C80-204
; NF EN 62418:2011-03-01
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Metallization stress void test