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Norm [AKTUELL]

SN EN 62417
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid- Halbleiter (MOSFET)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)

Ausgabe 2010-05

Originalsprache Deutsch

Preis ab 25,80 €

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