Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-19/A1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Ausgabe 2011-01-19
Originalsprache Spanisch
Preis ab 28,90 €
Inhaltsverzeichnis