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Norm [AKTUELL]

BS EN 62374-1
Halbleiterbauelemente. Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Ausgabe 2010-12-31
Originalsprache Englisch
Preis ab 192,70 €
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