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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 62416
Halbleiterbauelemente - Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren (IEC 62416:2010) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (IEC 62416:2010) (german version)

Ausgabe 2011-01-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 100,28 €

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