Norm
[AKTUELL]
OEVE/OENORM EN 62418
OEVE/OENORM EN 62418
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration (IEC 62418:2010) (deutsche Fassung)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010) (german version)