Norm [AKTUELL]

NF C80-203 ; NF EN 62417:2010-11-01
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)

Ausgabe 2010-11-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 73,40 €
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