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Norm [AKTUELL]

BS ISO 14237
Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionenmassenspektrometrie. Bestimmung des Elementgehalts von Bor in Silizium unter Verwendung gleichförmig dotierter Materialien

Titel (englisch)

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

Ausgabe 2010-08-31
Originalsprache Englisch
Preis ab 267,20 €
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