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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-35
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

Ausgabe 2006-09
Originalsprache Deutsch
Preis ab 21,20 €
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