Norm [AKTUELL]

SN EN 62047-3
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik. Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices. Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing

Ausgabe 2006-09
Originalsprache Deutsch
Preis ab 25,00 €
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