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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-23
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 23: High temperature operating life

Ausgabe 2004-04
Originalsprache Deutsch
Preis ab 28,70 €
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