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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-33
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

Ausgabe 2004-04
Originalsprache Deutsch
Preis ab 25,00 €
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